X射线实时成像系统采用射线源的介绍

　　X射线实时成像系统采用小焦点高功率X射线源、高灵敏度探测器和高精度运动控制系统，可保证样品检测时的高空间分辨率和的运动定位精度研发的采集、重建、数据分析等系列软件及根据用户需求定制的功能软件，可实现锥束扫描、螺旋扫描、大视野扫描以及数字成像功能，能够完成自动训机，探测器偏置、增益、非线性、像元不一致性校准，自动识别和校正坏像元等，可提供优于探测器原厂的校正功能，有效减少和消除扇束CT散射辐射而造成的图像伪影、硬化等图像质量问题。

　　激光粒度仪的测量原理要求在测试过程中，样品的浓度以样品中颗粒之间相互不发生二次散射为原则，理论上就是要求悬浮液或者空气中颗粒之间的距离为颗粒直径的3倍,但是这个要求非常难以掌握，因此在实际的粒度测试中，通过调整遮光比的数值来尽量保证颗粒之间不发生二次散射。

　　遮光比不宜过大（超过50%）或者过小（低于5%），遮光比过大时，颗粒的浓度过高，容易发生二次散射，测量结果误差增大；遮光比过低，样品中颗粒的浓度太低，颗粒数太少，测试结果的代表性很差，甚至可能导致测试结果是无效的，因此在测试过程中，对遮光比的选取要通过反复试验，以得到正确的测量结果。  性能方面的缺陷，如室温强度、塑性、韧性或疲劳性能等不合格；或者高温瞬时强度、蠕变强度不符合要求等。

　　性能方面的缺陷，只有在进行了性能试验之后才能确切知道。内部缺陷又可分为低倍缺陷和显微缺陷两类。前者如内裂，缩孔、疏松、白点、锻造流纹紊乱、偏析、粗晶、石状断口、异金属夹杂等；后者如脱碳、增碳、带状组织，铸造组织残留和碳化物偏析级别不符合要求等。专业的CT系统搭建方法和经验，根据客户的需求配置合适选装方案，实现多种扫描模式（二代和三代扫描）和跨尺度检测分辨率光路系统的集成，为客户提供样品检测方法，充分挖掘样品的信息。

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