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CSK-IA试块的主要用途

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CSK-IA试块的主要用途

发布日期:2019-09-24 作者: 点击:

试块的主要作用如下:

1)  利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动范围;

2)  利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围;

3)  利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点;

4)  利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力;

5)  利用中40、44和50ram曲面测定斜探头的分辨力;

6)  利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力;

7)  利用中50曲线和φ1.5mm横孔测定斜探头的K值;

8)  利用高度91mm(纵波声程91mm相当于横波50mm)调节横波1:1扫描速度,配合R100作零位校正;

9)  利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

  超声波探伤仪的分类-显示方式:A型B型C型发射波连续性分,脉冲波连续波。声波通道:单通道多通道。

  超声波探头的主要作用-超声波的发射和接收是通过探头来实现的。接收的原理-超声波探伤中的压电晶片具有压电效应,当高频电脉冲激励压电晶片时,发生逆压电效应,将声能

  CSK-IA试块是我国承压设备无损检测标准NB/T47013中规定的标准试块,其结构尺寸如图所示。

便携式X射线探伤机


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关键词:便携式X射线探伤机

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