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X射线实时成像系统的射线能量

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X射线实时成像系统的射线能量

发布日期:2019-08-26 作者: 点击:

  X射线实时成像系统对厚度差较大的工件,可以采用在一只暗盒里放两张胶片同时透照的双胶片技术。随着管电压的提高,底片上不同部位的黑度差将减小,这样,在规定的黑度范围内,可以容许更大的试件厚度变化范围,即提高管电压可以获得更大的透照厚度宽容度。此外,对厚度变化的试件透照,提高管电压可以减小散射比,降低边蚀效应。

  但是射线能量提高后,衰减系数μ减小,从未会导致对比度减小,这一点对射线照相灵敏度不利。因此,管电压不能任意提高,究竟管电压提高多少比较合适,这是确定具体透照工艺需要研究的问题。暗盒里放置的两张胶片一般应选用感光度不同的两种胶片(异速双片法),其中感光度较大的胶片适用于透照厚度较大部位的观察评定。

  另一种是在暗盒中放置感光速度相同的两张胶片(同速双片),管片方法是对黑度较小部位,将双片重叠观察评定,对黑度较大部位,用单片观察评定。透照操作应严格遵守工艺规定,操作程序、内容及有关要求简述如下:试件上如有妨碍涉嫌穿透或妨碍贴片的附加物,如设备附件、保温材料等,应尽可能去除。

  事件表面质量应经外观检查合格,如表面不规则状态可能在底片上产生掩盖焊缝中缺陷的图像时,应对表面进行打磨休整。按照工艺文件规定的检查部位、比例、一次透照长度,在工件上划线。采用单壁透照时,需要在试件两侧(射线侧和胶片侧)同时划线,并要求两侧所划的线段应尽可能对准。采用双壁单影透照时,只需在试件一侧(胶片侧)划线。

  线型像质计应放在射源线侧的工件表面上,位于被检焊缝区的一端(被检长度的1/4处),钢丝横跨焊缝并与焊缝方向垂直,细丝置于外侧。只有在射源侧无法放置像质计时,方可将其放在胶片侧,但须进行对比试验,使实际像质指数达到规定要求。像质计放胶片侧时,应加放“F”标记,以示区别。

  按照标准和工艺的有关规定摆放像质计和各种铅字标记。大厚度比对射线照相质量的不利影响主要表现在两个方面:一是因试件厚度差较大导致底片黑度差较大,而底片黑度过低或过高都会影响射线照相灵敏度。二是因试件厚度变化导致散射比增大,产生边蚀效应。试件厚度差异的大小可用试件厚度比来衡量,试件厚度比可定义为一次透照范围内试件的大厚度与小厚度之比,用Ks表示。当Ks大于1.4时,可以认为属于大厚度比试件。实际工作中的大厚度比试件包括余高较高的薄板对接焊缝试件、小口径管试件、角焊缝试件,以及一些形状较复杂的机械零件。


X射线实时成像系统


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